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Fraunhofer-Verbund Mikroelektronik

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29.08.2011 Kategorie: Ausgabe 43, Technologie, Fraunhofer IZFP-D, Kurz berichtet

Märkte von morgen: Studie »Technische Nanoanalytik«

 

TEM (Transmissionselektronenmikroskop)-Hellfeldaufnahmen einer Si/MoSi2-Multilagenschicht für künftige Röntgenoptiken. Abb.: Fraunhofer IZFP-D / Fraunhofer IWS
TEM (Transmissionselektronenmikroskop)-Hellfeldaufnahmen einer Si/MoSi2-Multilagenschicht für künftige Röntgenoptiken. Abb.: Fraunhofer IZFP-D / Fraunhofer IWS

Die Fraunhofer-Institute für Zerstörungsfreie Prüfverfahren, Institutsteil Dresden IZFP-D, für Werkstoff- und Strahltechnik IWS und für Fertigungstechnik und Angewandte Materialforschung IFAM, Institutsteil Dresden, zeigen in der Studie »Technische Nanoanalytik « Trends bei der Anwendung von analytischen Verfahren, insbesondere zur Bewertung nanoskaliger Strukturen, sowie künftige Anforderungen. Schwerpunkte sind die Anwendungsfelder Energietechnik, Mikro-, Nano-, Optoelektronik sowie Leichtbau und Funktionswerkstoffe.

Alle drei Institute sind Mitglieder des Dresdner Fraunhofer-Clusters Nanoanalytik. Das Netzwerk agiert als ein international sichtbares Kompetenzzentrum für Nanoanalytik und gilt als anerkannter Partner für die Industrie. Die Analyse komplexer nanoskaliger Strukturen erfordert die Verbesserung der Auflösung mikroskopischer Verfahren, oft in Kombination mit Struktur- und Elementanalytik, und die Reduzierung der »time-todata «. Dafür ist die enge Kooperation mit Industriepartnern, wie mit Carl Zeiss im gemeinsamen »Microscopy Innovation Center «, unerlässlich.

Kontakt:


Prof. Dr. Ehrenfried Zschech
Telefon +49 351 88815-543
ehrenfried.zschech(at)izfp-d.fraunhofer.de
Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren, Institutsteil Dresden IZFP-D Maria-Reiche-Straße 2
01109 Dresden
www.izfp-d.fraunhofer.de